元素分析仪器

Ux-720镀层厚度检测仪

一.产品简介  1.Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。 2.采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3.Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋...

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.产品简介

 1.Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。

2.采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

3.Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。

 4.X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

 5.Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。

 6.样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。

 7.设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

 8.软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。

.技术参数

1.测厚技术:X射线荧光测厚技术

2.测试样品种类:金属镀层,合金镀层

3.测量下限:0.003um

4.测量上限:30-50um(以材料元素判定)

5.测量层数:10

6.测量用时:30-120

7.探测器类型:Si-PIN电制冷   

8.探测器分辨率:145eV

9.高压范围:0-50Kv50W

10.X光管参数:0-50Kv50W,侧窗类;

11.光管靶材:Mo靶;

12.滤光片:专用3种自动切换;

13.CCD观察:260万像素

14.微移动范围:XY15mm

15.输入电压:AC220V50/60Hz

16.测试环境:非真空条件

17.数据通讯:USB2.0模式

18准直器:?1mm?2mm?4mm

19.软件方法:FlexFP-Mult

20.工作区:开放工作区 自定义

21.样品腔:330×360×100mm

.标准配件

样品固定支架1

窗口支撑薄膜:100

保险管:3

计算机主机:品牌+双核

显示屏:19吋液晶

打印机:喷墨打印机