一.产品简介
1.Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界领先。
2.采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
3.Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。
4.X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
5.Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
6.样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
7.设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。
8.软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
二.技术参数
1.测厚技术:X射线荧光测厚技术
2.测试样品种类:金属镀层,合金镀层
3.测量下限:0.003um
4.测量上限:30-50um(以材料元素判定)
5.测量层数:10层
6.测量用时:30-120秒
7.探测器类型:Si-PIN电制冷
8.探测器分辨率:145eV
9.高压范围:0-50Kv,50W
10.X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
11.光管靶材:Mo靶;
12.滤光片:专用3种自动切换;
13.CCD观察:260万像素
14.微移动范围:XY15mm
15.输入电压:AC220V,50/60Hz
16.测试环境:非真空条件
17.数据通讯:USB2.0模式
18准直器:?1mm,?2mm,?4mm
19.软件方法:FlexFP-Mult
20.工作区:开放工作区 自定义
21.样品腔:330×360×100mm
三.标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜:100张
保险管:3支
计算机主机:品牌+双核
显示屏:19吋液晶
打印机:喷墨打印机